外耳道最上點為耳點，在X線頭顱側位片上以頭顱定位儀耳桿的最上點代替，但機械耳點和解剖耳點在X線頭顱側位片上常不重疊屬客觀存在，差異可達1cm；其根源是骨性外耳道的走行由外向內而非水平直管狀的結構；由外到內呈“S”形，且個體間及同個體兩側的外耳道走行存在差異。且耳塞僅能塞入外耳道的外段，使得機械耳點很少與解剖耳點重疊。本文通過兩種耳點的選擇所確定的不同的FH平面，測量FMIA值，探討兩種不同耳點對FMIA值的影響。

　　眶耳平面（FH平面）是X線頭影測量中常用的基準平面，Tweed分析法、Downs分析法等均依賴于FH平面的準確定位。耳點的定位以教材為主，外耳道之最上點。由于外耳道解剖結構的特點是由軟骨部和骨性外耳道組成，其走形并非直管形，而是由外到內呈“S”，即外段向內向前，中段向內向后，內段向內向前，且個體間及同一個體兩側的外耳道走行存在差異，在拍頭顱定位側位片時，耳塞僅能塞入外耳道的外段，造成機械耳點的阻射光斑很少與外耳道最上點的投影重疊。即耳桿的耳塞與患者的外耳道的最上點不宜密合。

　　要正確定位耳點，必須熟悉耳點附近的解剖結構，耳周圍的解剖結構包括：頸靜脈窩、頸靜脈管、舌下神經管、頸動脈管外孔、內耳孔和內耳道，在頭顱定位側位X線片上，頸靜脈窩、頸靜脈管及舌下神經管的一部分被投射為后方的投射影像，頸動脈管外孔的一部分被投射為前方的透射影像，兩者組成“V”字形透射影像，正確的耳點應在包含“V”字形透射影像的耳桿影像的上緣。不同的耳點有不同的眶耳平面及眶耳平面與下中切牙長軸不同的交角，即FMIA值。FMIA值是下中切牙長軸和眶耳平面的交角。

　　41張頭顱定位側位片的測量結果顯示，不同的耳點選擇對FMIA測量值具有統(tǒng)計學差異。有相當比例的錯牙合畸形可能處于拔牙或不拔牙的臨界狀態(tài)，目前尚缺少一種綜合判斷系統(tǒng)解決拔牙和非拔牙矯治設計中的模糊性問題醫(yī)`學教育網搜集整理。往往憑借醫(yī)生的綜合判斷，醫(yī)生在考慮正畸的診斷設計擁擠度分析時，至少要考慮如下的因素：模型分析中牙弓長度的擁擠度、Spee's曲線、Bolton指數(shù)、上下第一磨牙的關系、X線頭影測量分析（包括FMIA值的測定）、軟組織測定（包括Z角、E線）及生長潛力等。X線頭影測量不調值＝（57-FMIA值）×0.8，下頜擁擠的總體不調量＝牙弓長度不調＋X線頭影測量不調量。因此構成FH平面的耳點正確定位對FMIA測量值有重要意義。而FMIA值直接影響正畸治療的矯治設計和正確的診斷。對于邊緣病例尤其重要。