《衛(wèi)生統(tǒng)計學(xué)》考點小結(jié)

1.定量資料的假設(shè)檢驗方法：t檢驗、Z檢驗、卡方檢驗等，等級資料：秩和檢驗等級相關(guān)等。

2.習(xí)慣上將P≤0.05的事件，稱為小概率事件，表示在一次抽樣的實驗或觀察中該事件發(fā)生的可能性很小，可視為不發(fā)生。

3.頻數(shù)表和頻數(shù)分布圖的主要用途是：

（1）揭示頻數(shù)分布的特征：集中趨勢和離散趨勢。

（2）揭示頻數(shù)分布的類型。

（3）便于發(fā)現(xiàn)極大或極小的可疑值。

4.標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的均數(shù)為0，標(biāo)準(zhǔn)差為1. 5.t檢驗的應(yīng)用條件：

①要求樣本來自正態(tài)分布總體；

②兩樣本均數(shù)比較時，還要求兩樣本所屬總體的方差相等（即方差齊性）。

6.Ⅰ型錯誤和Ⅱ型錯誤

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