<衛(wèi)生統(tǒng)計(jì)學(xué)>高分考點(diǎn)
1.定量資料的假設(shè)檢驗(yàn)方法:t檢驗(yàn)、Z檢驗(yàn)、卡方檢驗(yàn)等,等級資料:秩和檢驗(yàn)等級相關(guān)等。
2.習(xí)慣上將P≤0.05的事件,稱為小概率事件,表示在一次抽樣的實(shí)驗(yàn)或觀察中該事件發(fā)生的可能性很小,可視為不發(fā)生。
3.頻數(shù)表和頻數(shù)分布圖的主要用途是:
(1)揭示頻數(shù)分布的特征:集中趨勢和離散趨勢。
(2)揭示頻數(shù)分布的類型。
(3)便于發(fā)現(xiàn)極大或極小的可疑值。
4.均數(shù)、中位數(shù)和幾何均數(shù)間存在一定的關(guān)系:
對于正態(tài)分布資料,中位數(shù)等于均數(shù);
對于對數(shù)正態(tài)分布資料,中位數(shù)等于幾何均數(shù);
對于正偏態(tài)分布資料,中位數(shù)小于均數(shù);
對于負(fù)偏態(tài)分布資料,中位數(shù)大于均數(shù)。
5.Ⅰ型錯誤和Ⅱ型錯誤
6.配對設(shè)計(jì)差值的符號秩和檢驗(yàn)
編秩時,若差值為0,舍去不計(jì),樣本含量n相應(yīng)減去1;若差值絕對值相等,當(dāng)符號不同時,求平均秩次;當(dāng)符號相同時,既可順次編秩,也可求平均秩次。
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